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LS225+N1500是一款便攜式分體式的渦流測厚儀，由主機LS225和非鐵基探頭N1500組成。儀器采用渦流感應原理，具有高的測量精度和重復性，配上探針式的測頭設計，特別適用于測量各種小尺寸工件、異形材料的涂層厚度。

LS225涂層測厚儀產(chǎn)品特點：

1.探針式測頭設計

探針式測頭設計，特別適合于測量小尺寸和異型材料上的涂層及覆層厚度，測頭頂端采用高硬度紅寶石，可確保儀器具有超長使用壽命

2.可測超薄涂鍍層

采用數(shù)字震蕩技術(shù)和高速ADC采集

可測量10μm以下超薄涂層且確保數(shù)據(jù)準確穩(wěn)定

3.手壓機架測試更準確

選購專用的手壓測試機架能消除人為因素造成的誤差，數(shù)據(jù)重復性可達0.1μm

4.多點校準，數(shù)據(jù)更準確

支持調(diào)零和多點校準確保數(shù)據(jù)更加準確，配備專門的調(diào)零板和標準片

5.具備數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能

具備數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能，自動統(tǒng)計*近測試的9組數(shù)據(jù)的*大值，*小值，平均值和方差值

LS225涂層測厚儀產(chǎn)品參數(shù)：