我們會努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯,如技術(shù)參數(shù)中英文有差異,以英文參數(shù)為準。
日本KETT LE-200J膜厚計技術(shù)參數(shù):
測試方法:電磁感應(yīng)
應(yīng)用:磁性基材(鐵或鋼)上的非磁性涂鍍層
測試范圍:0-1500 μm或60.00mils
測試精度:<15μm: ±0.3μm, ≥15μm:±2%
分辨率:0.1μm (<100μm), 1.0μm (≥100μm)
符合標準:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5
統(tǒng)計功能:測試次數(shù)、標準偏差、較大值、較小值、批號
測試探頭:點觸式(LEP-J)
顯示方式:LCD數(shù)字顯示器,帶背光
輸出功能:RS-232C接口(傳輸速度:2400bps)
供電電壓:1.5 ("AA" 堿性電池) x 6 (主機), 打印機 ("AA" 堿性電池) x 4
大小重量:120(W)X250(D)X55(H)mm, Net 1.0kg